崗位職責(zé):
1. 產(chǎn)品失效分析,對產(chǎn)品qual/ORT 過程中出現(xiàn)的fail快速復(fù)現(xiàn),給定測試solution;
2. 產(chǎn)品測試數(shù)據(jù)分析,找出fail、Pass chip 的inline/CP index;
3. 根據(jù)DRAM 失效模式,推動(dòng)design、process進(jìn)行質(zhì)量與可靠性改善。
任職要求:
1.碩士研究生及以上學(xué)歷;
2.3年以上DRAM測試相關(guān)工作經(jīng)驗(yàn);
3. 熟悉DRAM各種失效模型和測試方式;
4. 會(huì)使用INGEDA2.0分析產(chǎn)品測試數(shù)據(jù)。